顯微熔點(diǎn)儀X-4
簡要描述:熔點(diǎn)測量范圍:室溫至320℃ 測量重復(fù)性:±1℃(在<200℃時(shí)) ±2℃(在200~300℃時(shí))
產(chǎn)品型號: X-4
所屬分類:熔點(diǎn)儀
更新時(shí)間:2024-12-02
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
詳情介紹
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產(chǎn)品型號: X-4
所屬分類:熔點(diǎn)儀
更新時(shí)間:2024-12-02
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家